Dr. Mathias Schröder

Bis 2022, Wissenschaftlicher Mitarbeiter, IfU GmbH Privates Institut für Umweltanalysen
..., Germany

Fähigkeiten und Kenntnisse

Erfahrungen
Rasterkraftmikroskopie
Ferroelektrika
Nanotechnologie
Rasterelektronenmikroskopie
Lithografie
Matlab-Programmierung
Projekt
LaTex
Forschung und Entwicklung
Prototypenbau
Sensortechnik
Sensorik
Projektbearbeitung
Mikrowellenradiometer
MTP-5

Werdegang

Berufserfahrung von Mathias Schröder

  • Current 3 years and 5 months, since Jan 2023

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter

    Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS

  • 8 years and 2 months, Jul 2014 - Aug 2022

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter

    IfU GmbH Privates Institut für Umweltanalysen

    Projektbearbeitung

  • 3 months, Mar 2014 - May 2014

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter

    Institut für Angewandte Physik/Photophysik

    Experimentelle und angewandte Physik: Rasterkraftmikroskopie, Leitfähigkeits-AFM (c-AFM), Rasterelektronenmikroskopie (REM), Ferroelektrika, Nanotechnologie, Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM)

  • 4 months, Dec 2013 - Mar 2014

    Doktorand und wissenschaftlicher Mitarbeiter

    Institut für Angewandte Physik/Photophysik

    Experimentelle und angewandte Physik: Rasterkraftmikroskopie, Leitfähigkeits-AFM (c-AFM), Rasterelektronenmikroskopie (REM), Ferroelektrika, Nanotechnologie, Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM)

  • 4 years, Dec 2009 - Nov 2013

    Doktorand und Stipendiat im Graduiertenkolleg

    Institut für Angewandte Physik/Photophysik Dresden

    Experimentelle und angewandte Physik: Rasterkraftmikroskopie, Leitfähigkeits-AFM (c-AFM), Rasterelektronenmikroskopie (REM), Ferroelektrika, Nanotechnologie, Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM)

Ausbildung von Mathias Schröder

  • 7 months, Jan 2012 - Jul 2012

    Physik

    University of Pennsylvania, Philadelphia, USA

    Thema: Nanoscale Impedance Measurements on Conductive Domain Walls

  • 4 years and 4 months, Dec 2009 - Mar 2014

    Physik

    Technische Universität Dresden

    Rasterkraftmikroskopie, Leitfähigkeits-AFM (c-AFM), Rasterelektronenmikroskopie (REM), Ferroelektrika, Nanotechnologie, Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM)

  • 5 years and 2 months, Oct 2004 - Nov 2009

    Physik

    Technische Universität Dresden

Sprachen

  • German

    C2 (Verhandlungssicher / Muttersprachlich)

  • English

    C1 (Fließend)

  • French

    A1-A2 (Grundkenntnisse)

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