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Dr. Mathias Schröder

Bis 2022, Wissenschaftlicher Mitarbeiter, IfU GmbH Privates Institut für Umweltanalysen
..., Deutschland

Fähigkeiten und Kenntnisse

Erfahrungen
Rasterkraftmikroskopie
Ferroelektrika
Nanotechnologie
Rasterelektronenmikroskopie
Lithografie
Matlab-Programmierung
Projekt
LaTex
Forschung und Entwicklung
Prototypenbau
Sensortechnik
Sensorik
Projektbearbeitung
Mikrowellenradiometer
MTP-5

Werdegang

Berufserfahrung von Mathias Schröder

  • Bis heute 2 Jahre und 5 Monate, seit Jan. 2023

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter

    Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS

  • 8 Jahre und 2 Monate, Juli 2014 - Aug. 2022

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter

    IfU GmbH Privates Institut für Umweltanalysen

    Projektbearbeitung

  • 3 Monate, März 2014 - Mai 2014

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter

    Institut für Angewandte Physik/Photophysik

    Experimentelle und angewandte Physik: Rasterkraftmikroskopie, Leitfähigkeits-AFM (c-AFM), Rasterelektronenmikroskopie (REM), Ferroelektrika, Nanotechnologie, Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM)

  • 4 Monate, Dez. 2013 - März 2014

    Doktorand und wissenschaftlicher Mitarbeiter

    Institut für Angewandte Physik/Photophysik

    Experimentelle und angewandte Physik: Rasterkraftmikroskopie, Leitfähigkeits-AFM (c-AFM), Rasterelektronenmikroskopie (REM), Ferroelektrika, Nanotechnologie, Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM)

  • 4 Jahre, Dez. 2009 - Nov. 2013

    Doktorand und Stipendiat im Graduiertenkolleg

    Institut für Angewandte Physik/Photophysik Dresden

    Experimentelle und angewandte Physik: Rasterkraftmikroskopie, Leitfähigkeits-AFM (c-AFM), Rasterelektronenmikroskopie (REM), Ferroelektrika, Nanotechnologie, Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM)

Ausbildung von Mathias Schröder

  • 7 Monate, Jan. 2012 - Juli 2012

    Physik

    University of Pennsylvania, Philadelphia, USA

    Thema: Nanoscale Impedance Measurements on Conductive Domain Walls

  • 4 Jahre und 4 Monate, Dez. 2009 - März 2014

    Physik

    Technische Universität Dresden

    Rasterkraftmikroskopie, Leitfähigkeits-AFM (c-AFM), Rasterelektronenmikroskopie (REM), Ferroelektrika, Nanotechnologie, Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM)

  • 5 Jahre und 2 Monate, Okt. 2004 - Nov. 2009

    Physik

    Technische Universität Dresden

Sprachen

  • Deutsch

    Muttersprache

  • Englisch

    Fließend

  • Französisch

    Grundlagen

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