Dr. Tobias Günther

Program manager for 22FDX customer accounts US/EMEA Program Manager 22FDX Automotive

Program manager for 22FDX customer accounts US/EMEA overall integration 22FDX automotive (G1)

Fach und Personalleitung von bis zu 12 Mitarbeitern. Verantwortlich für Defektmonitoring und Baseline Defekt Reduktion, CIP zur Optimierung des Monitorings und der Analysefähigkeit, Kundenkommunikation Aktueller Focus: Project manager process window qualification Optimierung und “advanced Automotive defect monitoring", Koordination Defekt-Kontrollplan bei Transfertechnologien; Owner der Defect Process and Equipment FMEA, Koordinator der defect infrastructure FMEA

Fachverantwortung und Leitung des Entwicklungsteams (5 Mitarbeiter); Stellvertretende Entwicklungsleitung; Planung und Koordination von Entwicklungs­vorhaben im Bereich faseroptischer Drehraten­sensoren (FOG) und Systeme auf FOG bzw. MEMS- Basis; Ansprechpartner für Kunden bei Entwicklung, Prototypenbau, Serienüberleitung; Konzeption und Entwicklung produktspezifischer Produktions-, Prüf-, Testmittel und -prozesse.

Transfergesellschaft infloge der Insolvenzeröffung der Qimonda AG und Qimonda Dresden GmbH

fachliche Gruppenleitung (7 Personen); Verantwortung für Planung, Einführung, Optimierung der Defektdichte-Kontrollstrategie unter Kosten- und Empfindlichkeitsaspekten; Mitarbeit an der Entwicklung der nächsten Speicher-Chip-Technologie-Generation über die Kundenqualifikation bis zum Volumen-Ramp; Unterstützung der Ausbeutesteigerung und Qualitätsverbesserung in der Volumen-Fertigung an der Schnittstelle zwischen Integration und Produktion.

Verantwortung für Planung, Einführung, Optimierung der Defektdichte-Messungen für mehrere komplette Technologie-Plattformen. Auswertung von Prozess-Entwicklungs- und Optimierungs-Versuchen, Interpretation der Messdaten und Vorhersage der Ausbeute- und Zuverlässigkeits-Relevanz von detektierten Prozess- und Maschinen-Induzierten Defekten - Entwicklung und Umsetzung innovativer Analyse-Methoden - Koordination des regelmäßigen Wissensaustausch im weltweiten Fertigungsverbund

Verantwortung für Planung, Einführung, Optimierung der Defektdichte-Messungen für ein Prozesssegment der Volumentechnologie; Auswertung von Prozess-Entwicklungs- und Optimierungs-Versuchen, Interpretation der Messdaten und Vorhersage der Ausbeute- und Zuverlässigkeits-Relevanz von detektierten Prozess- und Maschinen-Induzierten Defekten - Entwicklung und Umsetzung innovativer Analyse-Methoden

Promotion: Thema - fs-Nahfeldspektroskopie an einzelnen Halbleiterquantenpunkten" - technologische Weiterentwicklung des Messaufbaus inklusiver der Messtechnik (Nahfeldmikroskop, fs-Laser, opt. Abstandsregelung, Dtektionsmechanismus,...), Programmierung der Ansteuer- und Messelektronik (Visual C) - Durchführung der Messungen im Labor, - Analyse, Interpretation der Messergebnisse - Dokumentation und Veröffentlichungen der Erkenntnisse.

fs optical spectrosopy on semiconductor nanostructures