Tom Becker

Angestellt, Wissenschaftlicher Mitarbeiter, Fraunhofer IISB
Abschluss: Master of Science, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
Erlangen, Deutschland

Fähigkeiten und Kenntnisse

Halbleitertechnologie
Siliziumkarbid
Projektmanagment
Halbleiterphysik
Mikroelektronik
Nanotechnologie
Silizium
Mikroskopie
Quantenmechanik

Werdegang

Berufserfahrung von Tom Becker

  • Bis heute 5 Jahre und 11 Monate, seit Sep. 2019

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter

    Fraunhofer IISB

    Halbleiter-Entwicklungsingenieur in der Leistungselektronik (Transistoren, Dioden und Kondensatoren auf Siliziumkarbid und Silizium) - Simulation - Design - Prozessierung - Charakterisierung

  • 3 Jahre, Sep. 2016 - Aug. 2019

    Studentische Hilfskraft

    Fraunhofer IISB

    Rasterkraftmikroskop (AFM/SFM) Messungen und Analyse: Topographische und elektrische Messungen (TUNA, cAFM, thermisch und unter Stickstoffatmosphäre), Widerstandsmessungen (SSRM), Kelvin-Probe-Force (KPFM) Sputtern und Aufdampfen (C, Au, Al, Pt,...) auf elektronische Bauelemente Untersuchungen mit optischen Profilometer (ZETA)

  • 2 Monate, Aug. 2017 - Sep. 2017

    Werkstudent

    Wacker Chemie AG

    Regelmäßige Anstellung für sechs bis acht Wochen in den Sommersemesterferien 2012-2017. Abfüllen und Ansetzen von Silikonen

  • 2 Monate, März 2013 - Apr. 2013

    Zeitarbeiter für Bauunternehmen in Neuseeland

    RobLawMax Recruitment

  • 2 Monate, Okt. 2012 - Nov. 2012

    Zeitarbeiter für Bauunternehmen in Neuseeland

    AWF Group (Allied Workforce)

Ausbildung von Tom Becker

  • 2 Jahre und 5 Monate, Apr. 2017 - Aug. 2019

    Nanotechnologie

    Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

    Kernfach: Materialien der Elektronik und Energietechnik - Kristallwachstum Nebenfach: Technologie integrierter Schaltungen, Prozessinegration und Bauelementarchitektur Masterarbeit: Charakterisierung von tiefen Störstellen nach Implantation von Aluminium in n-Typ 4H-Siliziumkarbid (LEB/IISB)

  • 3 Jahre und 7 Monate, Sep. 2013 - März 2017

    Nanotechnologie

    Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

    Bachelorarbeit: Untersuchung inhomogener Schottky-Barrieren in 4H-SiC mittels cAFM (IISB)

Sprachen

  • Deutsch

    Muttersprache

  • Englisch

    Fließend

  • Spanisch

    Grundlagen

XING – Das Jobs-Netzwerk

  • Über eine Million Jobs

    Entdecke mit XING genau den Job, der wirklich zu Dir passt.

  • Persönliche Job-Angebote

    Lass Dich finden von Arbeitgebern und über 20.000 Recruiter·innen.

  • 22 Mio. Mitglieder

    Knüpf neue Kontakte und erhalte Impulse für ein besseres Job-Leben.

  • Kostenlos profitieren

    Schon als Basis-Mitglied kannst Du Deine Job-Suche deutlich optimieren.

21 Mio. XING Mitglieder, von A bis Z