Dr. Carsten Deiter
Fähigkeiten und Kenntnisse
Werdegang
Berufserfahrung von Carsten Deiter
- Bis heute 1 Jahr und 9 Monate, seit Sep. 2023
Operations Leader Characterization - Instrumentation Scientist Fixed Targets
European XFEL GmbH
Verantwortlicher für die Organisation des Tätigkeitsfeld "Charakterisierung" in der Gruppe "Sample Environment and Characterization". Entwickler und Berater für Probenumgebungen und die Manipulation von festen Proben für Experimente an den Instrumenten des European XFEL.
- 10 Jahre und 3 Monate, Juni 2013 - Aug. 2023
Instrumentation Scientist Fixed Targets - Characterization Expert
European XFEL GmbH
Wissenschaftler in der Gruppe "Sample Environment and Charactarization". Entwicklung von Instrumentierung für das Handling von Feststoffproben. Kontakt für die Untersuchungen von materialwissenschaftlichen Nutzerproben mittels optischer Mikroskopie und Röntgenmethoden.
- 5 Jahre, Juni 2008 - Mai 2013
Wissenschaftler
DESY Hamburg
Messplatzwissenschaftler an der "High Resolution Diffraction Beamline P08" am Speicherring PETRA III. Konzeption, Konstruktion und Aufbau von experimentellen Anlagen. Betreuung von in- und ausländischen Wissenschaftlergruppen bei der Vorbereitung und Durchführung von wissenschaftlichen Experimenten im Bereich der Physik und der Materialwissenschaften.
Aufbau der Arbeitsgruppe "Dünne Schichten und Grenzflächen" im Fachbereich Physik der Universität Osnabrück.
- 4 Jahre und 3 Monate, Juni 2001 - Aug. 2005
Doktorand
Universität Hannover / Universität Bremen
Doktorarbeit mit dem Titel "Röntgenstrukturanalyse von Halbleiter-Isolator-Schichtsystemen" Herstellung von dünnen Isolator- und Halbleiterschichten mittels Molekularstrahlepitaxie und deren Charakterisierung mittels Methoden der Röntgenstreuung und Rastersondenmikroskopie. Im letzten Jahr mit dem betreeuenden Professor nach Bremen gewechselt und die Promotion dort in der Physikalischen Chemie abgeschlossen.
Ausbildung von Carsten Deiter
- 1 Jahr und 2 Monate, Sep. 2004 - Okt. 2005
Biologie / Chemie
Universität Bremen
Röntgenstrukturanalyse von Halbleiter-Isolator-Schichtsystemen
- 3 Jahre und 3 Monate, Juni 2001 - Aug. 2004
Physik
Universität Hannover
Röntgenstrukturanalyse von Halbleiter-Isolator-Schichtsystemen
- 6 Jahre und 8 Monate, Okt. 1994 - Mai 2001
Physik
Universität Hannover
Festkörperphysik, Oberflächenphysik, Ultrahochvakuumtechnik, Molekularstrahlepitaxie, Rastersondenmikroskopie
Sprachen
Englisch
Fließend
Deutsch
Muttersprache
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