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Advanced Ion Beam Technology for Surface Analysis
IONTOF is a manufacturer of innovative instruments for surface analysis with different product lines for time-of-flight secondary ion mass spectrometers (TOF-SIMS) and high-sensitivity low-energy ion scattering (LEIS). The company is the leading European manufacturer of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometers (TOF-SIMS) for surface analysi
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