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Алекснадр Сивченко

Angestellt, Researcher, FSI SMC "Technological Center"
Moscow, Russische Föderation

Fähigkeiten und Kenntnisse

Wafer Laval Reliability
physical failure of CMOS IC
• Creating a GUI with VEE pro to control the measu
JEDEC standards
Skill work Agilent b1500/Cascade Prober
• Development of methods to assess the reliability
NBTI
HCI
EM
TDDB
CMOS

Werdegang

Berufserfahrung von Алекснадр Сивченко

  • Bis heute 14 Jahre und 9 Monate, seit Dez. 2010

    Researcher

    FSI SMC "Technological Center"

    . Development of methods to assess the reliability of test structures composed of wafers to the dominant mechanisms of the physical failure of CMOS IC: Electromigration conductive line (EM), breakdown of the gate dielectric (TDDB), injection of hot carriers (HCI), volatility parameters pMOP with a negative bias voltage and high temperature (NBTI).

  • Bis heute

    научный сотрудник

    НПК Технологический центр

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