Dr. Armin Muehlhoff

Bis 2023, FEoL Reliability Expert, GLOBALFOUNDRIES Dresden
Dresden, Germany

Fähigkeiten und Kenntnisse

Austausch und Beratung zum Themenbereich Transisto
NBTI
Off-State stress / # Single Workfunction (SWF)
Dual Workfunktion (DWF)-Technologien
high-k - Technologien / # DC- und AC - Stress
Nitridierung
Anneals
etc.) auf Zuverlässigkeit / # Definition geeig
Einsatzaspannung
Leckstrom) / # Lebensdauer-Extrapolationsmodel
Temperatur)

Werdegang

Berufserfahrung von Armin Muehlhoff

  • Current 16 years and 5 months, since Jan 2010

    MTS Reliability Engineer

    GLOBALFOUNDRIES Dresden Module One LLC & Co.KG

  • 13 years and 9 months, Jan 2010 - Sep 2023

    FEoL Reliability Expert

    GLOBALFOUNDRIES Dresden

    Expert FEoL reliability: HCI & BTI : * FDSOI & Bulk technologies: 20nm / 28nm / 40nm * CMOS & analog devices * development of degradation models: standard devices, HV devices, LDMOS, diodes * modelling of saturation models, promt-shift effects * knowledge in device engineering

  • 3 years and 7 months, Jun 2006 - Dec 2009

    Projektleiter Device Reliability

    Qimonda (Dresden)

    # Fachliche Fuehrungsverantwortung für 5 Mitarbeiter (internationales Team); # Kompetenzaufbau und Kompetenzerhalt der Mitarbeiter im Bereich Device Reliability; # Fachliche Verantwortung für Freigabentscheidung bei allen Technologiequalifikationen; # Richtlinienkompetenz bei Definition der Methoden zur Zuverlässigkeitsbewertung; # Definition und Implementierung von methodischen Projekten im Rahmen der Entwicklung / Vorfeldentwicklung; # Equipmententscheidung für alle messtechnischen Einrichtungen

  • 8 years and 4 months, Feb 1998 - May 2006

    Entwicklungsingenieur (Device Reliability)

    Infineon AG

    # Prozess-Qualifikaton von DRAM-Technologien; # Methodikentwicklung zur Zuverlässigkeits-Bewertung (Stressbedingungen, Lebensdauer-Extrapolationsmodelle für Hot-Carrier-, Off-State-Degradation, NBTI); Präsentationenen auf int. Konferenzen; # Identifizierung kritischer Transistoren, Definition von Ausfallkriterien in Zusammenarbeit mit Schaltungsdesign / Simulation; # Definition der Transistor-Zuverlässigkeits-Teststrukturen; # Kompetenzerweiterung: Abordnung zur Technologieentwicklung

  • 1 year and 8 months, Jun 1996 - Jan 1998

    Entwicklungsingenieur (Logistik)

    Siemens AG / Sicherungstechnik

    # Zuverlässikeitsanalysen elektronischer Systeme; # Beratung des Schaltungsdesigns im Hinblick auf Ausfallminimierung; # Technische Planung von Umwelttests

  • 6 months, Dec 1995 - May 1996

    Technischer Sachbearbeiter

    PCE Ingenieurplanungsgesellschaft mbH

    # Optimierung technischen Prüfequipments für Radar-Elektronik; # Erstellung detaillierter Prüf- und Instandsetzungsanleitungen für Radar-Elektronik

  • 2 years and 6 months, Jun 1993 - Nov 1995

    Entwicklungsingenieur (EEPROM)

    Siemens AG / Halbleiter

    # SW-Entwicklung zur Charakterisierung von EEPROM-Speicherzellen; # Charakterisierung von EEPROM-Speicherzellen und Peripherie-Transistoren im Rahmen der Prozessentwicklung; # Erstellung von Parameter-Messprogrammen fuer Produktionslinie

Ausbildung von Armin Muehlhoff

  • 6 years and 11 months, May 1986 - Mar 1993

    Optoelektronik / III/V-Halbleiter

    TU München

    wiss. Mitarbeiter / wiss. Assistent: Einbindung in Forschungs- und Lehrbetrieb: # Laserdioden fuer die opt. Nachrichtentechnik: InP / InGaAsP - Epitaxie, BCRW-Technologie, DFB-/DBR-Laserdioden, Charakterisierung; # Betreuung von Vorlesungen, Übungen, Praktika / Diplomarbeiten

  • 6 years and 6 months, Oct 1979 - Mar 1986

    Elektrotechnik

    TU München

    Allgemeine Elektrotechnik; Halbleiterelektronik und Halbleitertechnologie

Sprachen

  • German

    C2 (Verhandlungssicher / Muttersprachlich)

  • English

    C1 (Fließend)

  • French

    A1-A2 (Grundkenntnisse)

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