Dr. Christian Schmitz

Bis 2020, Engineering Manager, Intel Deutschland GmbH
Duisburg, Deutschland

Fähigkeiten und Kenntnisse

Management
Projektleiter
Messtechnik
ATE
High Volume Manufacturing
Halbleitertest
Mixed Signal Test
RF Test
Digitaltest
Testautomatisierung
C++
Erstellung von Testkonzepten
DfT
Version Control
System on Chip
Python
Teamleitung
High Speed IO Testing
Validierung

Werdegang

Berufserfahrung von Christian Schmitz

  • Bis heute 5 Jahre und 4 Monate, seit Apr. 2020

    Senior Test Engineer and Engineering Manager

    CYIENT

  • 9 Jahre und 2 Monate, Feb. 2011 - März 2020

    Engineering Manager

    Intel Deutschland GmbH

    Manager eines Testentwicklungsteam für SoC Mikrochips. Projektleiter für die Entwicklung von Testprogrammen für den Produktionstest von 3G/4G/5G Mobile Phone und Watch SoCs. Entwicklung von Testhardware und Testprogrammen für das ATE Testsystem Advantest V93000 mit dem Schwerpunktr Mixed-Signal, RF und High Speed IO Test.

  • 11 Jahre und 10 Monate, Apr. 1999 - Jan. 2011

    Projektleiter und Senior Staff Ingenieur

    Infineon Technologies

    Projektleiter für die Entwicklung von Testprogrammen für den Produktionstest von DECT und Bluetooth Mikrochips und 2G Mobile Phone SoCs. Entwicklung von Testhardware und Testprogrammen für verschiedene ATE Testsystem (Advantest V93000, Teradyne Catalyst und J750). Fokus war der Mixed-Signal und RF Test für PMU, FMR und 2G Makros.

  • 1 Jahr und 7 Monate, Sep. 1997 - März 1999

    ATE Testingenieur

    SIEMENS

    Entwicklung von Testhardware und Testprogrammen für den Produktionstest von DECT Mikrochips auf dem ATE Testsystem Teradyne J971.

  • 9 Jahre und 7 Monate, Feb. 1988 - Aug. 1997

    ATE Testingenieur

    Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS

    Entwicklung eines Mixed-Signal ATE Testsystems basierend auf dem digitaltester Schlumberger Sentry S15. Entwicklung von Testhardware und Testprogrammen für den Wafer- und Bausteintest von Mikrochips (z.B.: Transponder und Cochlea-Implantat Chips). Dissertation "Methoden zum automatischen Test von digitalen, analogen und Mixed-Signal Schaltungen" Betreuung von Studien- und Diplom-Arbeiten.

Ausbildung von Christian Schmitz

  • 1 Monat, Juni 1994 - Juni 1994

    Verifikation von Mikrochips

    Gerhard-Mercator-Universität Duisburg, Fraunhofer-Institut (IMS)

    Dissertation "Methoden zum automatischen Test von digitalen, analogen und Mixed-Signal Schaltungen"

  • 6 Jahre und 4 Monate, Okt. 1981 - Jan. 1988

    Elektrotechnik

    Gerhard-Mercator-Universität Duisburg

    Nachrichtentechnik

Sprachen

  • Deutsch

    Muttersprache

  • Englisch

    Fließend

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