Dr. Fanny Albrecht

Angestellt, Principal Engineer, Infineon Technologies
Warstein, Deutschland

Werdegang

Berufserfahrung von Fanny Albrecht

  • Bis heute 1 Jahr und 2 Monate, seit Mai 2024

    Principal Engineer

    Infineon Technologies

  • 6 Jahre und 3 Monate, Feb. 2018 - Apr. 2024

    Senior Staff Engineer

    Infineon Technologies AG Warstein

  • 2 Jahre, Feb. 2016 - Jan. 2018

    Staff Engineer

    Infineon Technologies Asia Pacific Pte. Ltd., Singapore

  • 4 Jahre und 10 Monate, Apr. 2011 - Jan. 2016

    Fachberaterin

    Infineon Technologies Dresden GmbH

  • 8 Monate, Aug. 2010 - März 2011

    Prozesstechnologin Verdampfen

    Solibro GmbH

  • 1 Jahr und 3 Monate, Mai 2009 - Juli 2010

    Statistikerin

    Solibro Gmbh

  • 1 Jahr und 5 Monate, Sep. 2007 - Jan. 2009

    Yield Analysis Engineer

    Qimonda North America Corporation, Sandston VA/USA

    Unterstützung des Technologie-Transfers vom deutschen Entwicklungsstandort zu den Produktionsanlagen in den USA; Team-/Projektleitung

  • 1 Jahr und 4 Monate, Mai 2006 - Aug. 2007

    Systemexperte Produkttechnik

    Qimonda Dresden GmbH & Co. OHG

    Statistische Datenanalyse mit dem Ziel der Ausbeutesteigerung/Produktentwicklung im Volumenramp von DRAM-Produkten, Statistische Prozesskontrolle, DoE-Analyse (Design of experiment)

  • 1 Jahr und 11 Monate, Juni 2004 - Apr. 2006

    Systemexperte Produkttechnik

    Infineon Technologies SC300 GmbH & Co. KG

Ausbildung von Fanny Albrecht

  • 5 Jahre und 11 Monate, Juli 1998 - Mai 2004

    Physik

    Friedrich-Schiller-Universität Jena

    Nukleare Festkörperphysik, Halbleiterphysik: Thema der Dissertation: „Elektrische Charakterisierung von Störstellen in den III-IV-Halbleitern GaAs und GaN mittels Radiotracer-Spekroskopie“

  • 1 Jahr, Jan. 1996 - Dez. 1996

    Physik

    University of New Mexico, Albuquerque NM/USA

  • 6 Jahre und 9 Monate, Okt. 1991 - Juni 1998

    Physik

    Friedrich-Schiller-Universität Jena

    Thema der Diplomarbeit: „Untersuchung von In – Defekt-Komplexen in CdTe mit der Methode der gestörten Gamma-Gamma-Winkelkorrelation”

Sprachen

  • Englisch

    -

  • Deutsch

    -

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