Dipl.-Ing. Norbert Rehm

Definition, Entwicklung, Dokumentation und Fehlersuche von DRAM Wafer Testprogrammen auf Advantest Analyse, Entwicklung und Optimierung von Test Abdeckung Kontinuierliche Yieldverbesserung, Synchronisierung, Testzeitreduktion Verifikation von Testprogrammen und Testpattern vor dem ersten Silizium mit Epic- und Verilog-Simulationen Evaluierung und Charakterisierung neuer Produkte vom ersten Silizium bis zur Produktion Trainer für Anfänger und Mentor für weniger erfahrene Produkttestingenieure

Entwicklung, Programmierung und Pflegen von Wafer- und Komponenten-Testprogrammen und Testpattern für nichtflüchtige FeRAM Speicher Entwicklung von Zuverlässigkeitsprogrammen und Analysemethoden für FeRAM Speicher Ausführen der Tests und Analysen Entwicklung und Programmierung verschiedenster Datenanalyseprogrammen mit C unter UNIX UNIX Skripte, um Ergebnisdateien automatisch auszuwerten Entwicklung und Pflege der UNIX Testumgebung

Wafer Testprogrammentwicklung für 128MBit DRAM

Physics with Information Technology for Science

technische Physik