Dr. Sascha Dieter

Angestellt, Fachgruppenleiter FIB, Atotech Deutschland GmbH
Berlin, Germany

Fähigkeiten und Kenntnisse

Untersuchung von Schichtsystemen und Bauteilen mit
Langjährige Erfahrung im Bereich der röntgenograph

Werdegang

Berufserfahrung von Sascha Dieter

  • Current 8 years and 5 months, since Jan 2018

    Fachgruppenleiter FIB

    Atotech Deutschland GmbH

    Stellvertretender Fachgruppenleiter für den Bereich Mikroskopie in der Abteilung Material Science world wide. Durchführung von Auftragsprüfungen und Projekten mittels Zielpräparation, Licht- und Elektronenmikroskopie an funktionellen und dekorativen Schichten und Schichtverbundsystemen.

  • 2 years and 3 months, Oct 2008 - Dec 2010

    Arbeitsgruppenleiter

    Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung

    Leiter der Arbeitsgruppe "Lokale Phasenanalyse und Alterungsmechanismen" in der Fachgruppe V.1 "Struktur und Gefüge von Werkstoffen". Als Ansprechpartner für den Bereich REM, EBSD und XRD in der Fachgruppe V.1 bin für die Durchführung von Auftragsprüfungen, Gutachten, Forschungsvorhaben und Projekten mittels REM, EBSD und XRD an dünnen Schichten, Bulkmaterial oder Schadensfällen verantwortlich

  • 1 year and 2 months, Aug 2007 - Sep 2008

    Ansprechpartner Metrology und Analytik

    Fraunhofer CNT

    -Ansprechpartner für das Kompetenzgebiet Metrology und Analytik -Betreuung des Bereichs Röntgenmethoden und der dort laufenden bzw. geplanten Projekte zur Forschung und Entwicklung zukünftiger Anwendungen in der Halbleiterindustrie. -Betreuer des Inline-XPS und XRD -Mitglied im „Center of Excellence X-Ray“ bei Qimonda.

  • 2 years, Aug 2005 - Jul 2007

    Systemexperte Metrology

    Infineon SC300 / Qimonda AG

    -Applikationsentwicklung für Prozesskontrolle mittels XPS, XRR, XRF und XRD -Unterstützung der Vorentwicklung mit XPS, XRR, XRF und XRD in internen und externen Projekten und Machbarkeitsstudien. -Betreuer der inline XPS-Anlage, wissenschaftlicher Ansprechpartner des inline XRD. -Mitglied im „Center of Competence Surface Analysis” im CNT und „Center of Excellence X-Ray“ bei Qimonda.

  • 2 years and 11 months, Sep 2002 - Jul 2005

    PostDoc

    Technische Universität Berlin

    -Charaktersierung von dünnen Schichten und Bulkmaterial mit XRD und XRR -Durchführung und Beantragung interner / externer Projekte mittels konventioneller und Synchrotronstrahlung an der TUB, am HASYLAB (Hamburg) und der ESRF (Grenoble). -Betreuung mehrerer Röntgendiffraktometer und Implementierung einer neuen Steuersoftware.

  • 3 years and 8 months, Jan 1999 - Aug 2002

    Doktorand

    Hahn-Meitner-Insitut Berlin

    -Charaktersierung von Mikrobauteilen, dünnen Schichten und Bulkmaterial mit XRD, XRR und REM/EDX -Durchführung interner / externer Projekte mittels konventioneller und Synchrotronstrahlung am HMI, HASYLAB (Hamburg) und der ESRF (Grenoble). -Betreuung eines Einkorn-XRD und eines XRD mit Drehanode.

Ausbildung von Sascha Dieter

  • 3 years and 9 months, Jan 1999 - Sep 2002

    Technische Universität Berlin

    siehe Berufserfahrung Hahn-Meitner-Institut Berlin

  • 6 years and 3 months, Oct 1992 - Dec 1998

    Mineralogie

    Freie Universität Berlin

    Kristallographie, Mineralogie, Werkstoffwissenschaften (TUB) und Festkörperphysik

Sprachen

  • German

    C2 (Verhandlungssicher / Muttersprachlich)

  • English

    C1 (Fließend)

  • Latein Grundkenntnisse

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