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Dr. Sascha Dieter

Angestellt, Fachgruppenleiter FIB, Atotech Deutschland GmbH
Berlin, Deutschland

Fähigkeiten und Kenntnisse

Untersuchung von Schichtsystemen und Bauteilen mit
Langjährige Erfahrung im Bereich der röntgenograph

Werdegang

Berufserfahrung von Sascha Dieter

  • Bis heute 7 Jahre und 6 Monate, seit Jan. 2018

    Fachgruppenleiter FIB

    Atotech Deutschland GmbH

    Stellvertretender Fachgruppenleiter für den Bereich Mikroskopie in der Abteilung Material Science world wide. Durchführung von Auftragsprüfungen und Projekten mittels Zielpräparation, Licht- und Elektronenmikroskopie an funktionellen und dekorativen Schichten und Schichtverbundsystemen.

  • 2 Jahre und 3 Monate, Okt. 2008 - Dez. 2010

    Arbeitsgruppenleiter

    Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung

    Leiter der Arbeitsgruppe "Lokale Phasenanalyse und Alterungsmechanismen" in der Fachgruppe V.1 "Struktur und Gefüge von Werkstoffen". Als Ansprechpartner für den Bereich REM, EBSD und XRD in der Fachgruppe V.1 bin für die Durchführung von Auftragsprüfungen, Gutachten, Forschungsvorhaben und Projekten mittels REM, EBSD und XRD an dünnen Schichten, Bulkmaterial oder Schadensfällen verantwortlich

  • 1 Jahr und 2 Monate, Aug. 2007 - Sep. 2008

    Ansprechpartner Metrology und Analytik

    Fraunhofer CNT

    -Ansprechpartner für das Kompetenzgebiet Metrology und Analytik -Betreuung des Bereichs Röntgenmethoden und der dort laufenden bzw. geplanten Projekte zur Forschung und Entwicklung zukünftiger Anwendungen in der Halbleiterindustrie. -Betreuer des Inline-XPS und XRD -Mitglied im „Center of Excellence X-Ray“ bei Qimonda.

  • 2 Jahre, Aug. 2005 - Juli 2007

    Systemexperte Metrology

    Infineon SC300 / Qimonda AG

    -Applikationsentwicklung für Prozesskontrolle mittels XPS, XRR, XRF und XRD -Unterstützung der Vorentwicklung mit XPS, XRR, XRF und XRD in internen und externen Projekten und Machbarkeitsstudien. -Betreuer der inline XPS-Anlage, wissenschaftlicher Ansprechpartner des inline XRD. -Mitglied im „Center of Competence Surface Analysis” im CNT und „Center of Excellence X-Ray“ bei Qimonda.

  • 2 Jahre und 11 Monate, Sep. 2002 - Juli 2005

    PostDoc

    Technische Universität Berlin

    -Charaktersierung von dünnen Schichten und Bulkmaterial mit XRD und XRR -Durchführung und Beantragung interner / externer Projekte mittels konventioneller und Synchrotronstrahlung an der TUB, am HASYLAB (Hamburg) und der ESRF (Grenoble). -Betreuung mehrerer Röntgendiffraktometer und Implementierung einer neuen Steuersoftware.

  • 3 Jahre und 8 Monate, Jan. 1999 - Aug. 2002

    Doktorand

    Hahn-Meitner-Insitut Berlin

    -Charaktersierung von Mikrobauteilen, dünnen Schichten und Bulkmaterial mit XRD, XRR und REM/EDX -Durchführung interner / externer Projekte mittels konventioneller und Synchrotronstrahlung am HMI, HASYLAB (Hamburg) und der ESRF (Grenoble). -Betreuung eines Einkorn-XRD und eines XRD mit Drehanode.

Ausbildung von Sascha Dieter

  • 3 Jahre und 9 Monate, Jan. 1999 - Sep. 2002

    Technische Universität Berlin

    siehe Berufserfahrung Hahn-Meitner-Institut Berlin

  • 6 Jahre und 3 Monate, Okt. 1992 - Dez. 1998

    Mineralogie

    Freie Universität Berlin

    Kristallographie, Mineralogie, Werkstoffwissenschaften (TUB) und Festkörperphysik

Sprachen

  • Deutsch

    Muttersprache

  • Englisch

    Fließend

  • Latein Grundkenntnisse

    -

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