Thomas Wieland Moifo kuete

-Entwicklung intumeszenter Brandschutzmaterialien -Optimierung polymerer Formulierungen -Materialcharakterisierung mittels FT-IR, DSC, TGA, DMTA, MTMA, TA, Mikroscopie -Root Cause Analysis -Technische Dokumentation -Datenanalyse

Titel: Advancing systematic fire stop design: enhancing polymer materials and functional fillers for fire stop materials through optimised intumescent effects -Polymer matrix optimization -Graphite characterization -Intumescent mix optimization -Curing kinetic optimization -Catalyst optimization -Analytical methods: FT-IR, DMTA, MTMA, DSC, TGA, TA Note: 1.3

Als Werkstudent im Bereich DTI Analysis bei HILTI unterstützt ich die Analyse und Interpretation von Temperaturdaten bzw. Wärmeleitfähigkeiten zur Optimierung von Bauprojekten. Aufgabenbereiche - Auswerten von Temperaturdaten bzw. Wärmeleitfähigkeiten und Entwickeln von Analysealgorithmen. - Mitarbeit an Entwicklungsprojekten und Tests neuer Technologien. - Erstellen von Berichten und Präsentationen. - Zusammenarbeit mit Ingenieur*innen und Wissenschaftler*innen.

Isolierung und organische Teilsynthese von Wirkstoffen aus Heilpflanzen Isolierung und Synthese von Wirkstoffen unter GMP Charakterisierung mittels NMR, HPLC, LC-MS, FT-IR und UV-Vis Erstellung von Berichten und Veröffentlichung von Ergebnissen Wartung von Laborausrüstung Verfassung von SOPs

Branche: Pharmazeutische Chemie & Abwasserbehandlung Projekt: Synthese und Modifikation von Molekülen für Abwasserbehandlung in Kamerun Wartung von Laborausrüstung Verfassung von SOPs Wartung und Kalibrierung von Laborgeräten Erstellung von Protokollen und wissenschaftlichen Berichten Veröffentlichung von Forschungsergebnissen Strukturanalyse mittels NMR, HPLC, LC-MS, TLC, FT-IR und UV-Vis Projektmanagement ein kleines Team

Notendurchschnitt: 2,0 Fachrichtung: Materialchemie Schwerpunkt: Funktionale Polymere, Werkstoffentwicklung und Materialcharakterisierung

Organische Synthese von Wirkstoffen und Strukturaufklärung mittels LC-MS, HPLC, RMN, TLC, CC, LC-MS, FT-IR