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Dr. Tobias Nink

Angestellt, Security Analyst, NXP Semiconductors Germany
Hamburg, Deutschland

Fähigkeiten und Kenntnisse

Hardware Security
Fehleranalyse
Test und DFT
Arbeitssicherheit / Laserschutz
Lasertechnik
Elektronenmikroskopie
ICS
Personalführung

Werdegang

Berufserfahrung von Tobias Nink

  • Bis heute 11 Jahre und 3 Monate, seit Apr. 2014

    Security Analyst

    NXP Semiconductors Germany
  • 1 Jahr und 10 Monate, Juni 2012 - März 2014

    Manager Failure Analysis and Quality Support

    NXP Semiconductors Germany
  • 4 Jahre und 11 Monate, Juli 2007 - Mai 2012

    Failure Analysis Engineer

    NXP Semiconductors Germany
  • 7 Jahre und 3 Monate, Apr. 2000 - Juni 2007

    Test Development Engineer

    Micronas GmbH

    Entwicklung von Testlogik (DFT) und Testprogrammen für integrierte Halbleiterschaltungen (ICs)

  • 5 Jahre und 5 Monate, Nov. 1994 - März 2000

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter

    Technische Universität Berlin

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter (Vollzeit) am Optischen Institut der TU Berlin

Ausbildung von Tobias Nink

  • Physik

    Technische Universität Berlin

Sprachen

  • Deutsch

    Muttersprache

  • Englisch

    Fließend

  • Französisch

    Grundlagen

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