Dr. Christian Giese

Ich arbeite an der Schnittstelle zwischen Forschung und Halbleitertechnologie. Hier betreibe ich sowohl technologische Prozessentwicklung als auch Projektarbeit im Bereich der diamantbasierten Chip- und Sensortechnologie.

Ich bin im Auftrag von Ferchau Engineering im Einsatz bei Carl-Zeiss SMT in Oberkochen. Dort bin ich tätig in der Komponentenmesstechnik für die Litograhieoptik. Hier entwickle ich hochgenaue, interferometrische Messmethoden für optische Komponenten.

In meiner Position als Doktorand habe ich an ultrakalten (magneto-optische Fallen) und kalten Atomen bzw. Molekülen geforscht. Ich habe während meiner Tätigkeit vertiefte Kenntnisse in Lasertechnik (Halbleiterlaser, Gaslaser, cw und modengekoppelte Festkörperlaser), Optomechanik, optischen Messmethoden und Spektroskopie gewonnen. Ich habe physikalische Experimente von der Planung bis zur wissenschaftlichen Publikation selbstständig durchgeführt und die Ergebnisse auf internationalen Tagungen präsentiert.

Während meiner Tätigkeit war ich zuständig für die Charackterisierung von Hochleistungslaserdioden. Diese umfasste die Aufnahme von Leistungs- und Spannungskennlinien sowie die Vermessung der m^2-Werte der Laser sowie der Nah- und Fernfelder.

Meine Aufgaben bestanden in der Vermessung von leistungsstarken Halbleiterdiodenlasern. Darunter fielen die Aufnahme von Leistungs- und Spannungskennlinien sowie die Bestimmung der Strahlqualität (m^2 und Fernfeldmessungen). Untersucht wurden sowohl Breitstreifen als auch Trapezlaser.

Ultrakurz-Spektroskopie, Pump-Probe Wellenpaketspektroskopie, Femtosekundenlaser, Molekülphysik, Vakuumtechnik, Optomechanik, Lasertechnik.

Auslandssemester im Rahmen der Baden-Württemberg Stiftung

Atomphysik, Quantenoptik, Astrophysik