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Jens Wandner

Angestellt, Staff Assistent Physical Failure Analyse TEM/SEM/FIB, Infineon Technologies
Dresden, Deutschland

Fähigkeiten und Kenntnisse

Analyse
Rasterelektronenmikroskopie
Imaging
Dokumentation
Technologie
SEM
Flexibilität
Teamfähigkeit
Zuverlässigkeit
Kundenorientierung
Genauigkeit
Technisches Verständnis
Belastbarkeit
Qualitätsbewusstsein
Geduld
Pünktlichkeit
Schnelle Auffassungsgabe
Zielstrebigkeit
Eigenverantwortung
Engagement
Analytisches Denken

Werdegang

Berufserfahrung von Jens Wandner

  • Bis heute 9 Jahre und 5 Monate, seit Feb. 2016

    Staff Assistent Physical Failure Analyse TEM/SEM/FIB

    Infineon Technologies

    Rasterelektronenmikroskopie, REM-Präparation, TEM-Präparation inkl. LiftOut, TEM-Imaging,Focused Ion Beam, phys. und chem. Rückpräparation, EDX

  • 6 Monate, Aug. 2015 - Jan. 2016

    Operator Lithographie

    X-FAB Dresden GmbH & Co. KG

  • 4 Jahre und 10 Monate, Mai 2010 - Feb. 2015

    Complex Analyse Technician CCA/Malab SEM/TEM/FIB

    Globalfoundries Dresden

  • 2 Monate, März 2010 - Apr. 2010

    Techniker Converting

    Southwall Europe GmbH

  • 3 Monate, Mai 2009 - Juli 2009

    Praktikant

    Solarwatt AG

    Produktionsbezogenes Praktikum

  • 10 Monate, Okt. 2008 - Juli 2009

    Fachkraft für Solartechnologie (9Mon. Ausbildung inkl. Praktikum)

    Qfmd

    Ausbildung zur Fachkraft für Solartechnologie Inhalte: * Kommunikation und Teamarbeit * Sprachkurse: Technik-Englisch * Grundlagen Elektrotechnik / Elektronik * Halbleitertechnik * Werkstoffe der Elektrotechnik, Elektronik und Solartechnik * Energieerzeugung / Photovoltaik * Löten * EDV: Windows, Office (Abschluss mit Europäischem Computer-Führerschein) * Computerintegrierte Fertigung (firmenspezifische Software) * Prozess-Steuerung und Qualitätsmanagement * Prak

  • 7 Jahre und 8 Monate, Feb. 2001 - Sep. 2008

    Physiklaborant;Forschungs-und Fertigungsbegleitende Elektronenmikroskopie

    SGS Institut Fresenius / CTS Microelectronik

    Forschungs- und fertigungsbegleitende sowie qualitätssichernde Rasterelektronenmikroskopie an siliziumbasierenden Halbleitern; Erfahrung an verschiedenen SEM´s (Hitatchi 4500,4800,5200); Präparation verschiedenster unterschiedlicher Speicher - und Logikhalbleiterprodukten durch mechanische und chemische Aufbereitung unter Verwendung verschiedener moderner Präparationseinrichtungen wie Polieranlagen, Plasma, - Abscheide - und Sputtertools; Bildliche Darstellung ,Vermessung und Dokumentation der Ergebnisse

Ausbildung von Jens Wandner

  • xxx

Sprachen

  • Deutsch

    -

  • Englisch

    Grundlagen

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