Dr. Thomas Gumprecht

Angestellt, PJM / Senior Expert R&D, Infineon Technologies AG
Abschluss: Dr.-Ing., Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
Regensburg, Deutschland

Fähigkeiten und Kenntnisse

Innovationsfreude
Belastbarkeit
Gestaltungswille
Projektmanagement
Projektleitung
Automotive
Halbleitertechnologie
Teamfähigkeit
Kreativität
Verantwortung
Motivation
Displays
Kombi-Instrumente
Flexibilität

Werdegang

Berufserfahrung von Thomas Gumprecht

  • Bis heute 4 Jahre und 10 Monate, seit Okt. 2020

    Senior PJM Pre-Development

    Infineon Technologies
  • Bis heute 6 Jahre und 11 Monate, seit Sep. 2018

    PJM / Senior Expert R&D

    Infineon Technologies AG

  • 3 Jahre und 3 Monate, Juni 2015 - Aug. 2018

    PJM - R&D Display Technologies

    Continental Automotive GmbH

    Projektmanagement im Bereich Displayentwicklung

  • 6 Jahre und 4 Monate, Feb. 2009 - Mai 2015

    Wissenschaftlicher Mitarbeiter

    Fraunhofer IISB, Abteilung: Technologie und Fertigung

  • 3 Jahre und 4 Monate, Juni 2010 - Sep. 2013

    Doktorand

    Friedrich-Alexander Universität Erlangen-Nürnberg
  • 8 Monate, Mai 2008 - Dez. 2008

    Diplomand

    Siltronic AG Werk Burghausen

  • 1 Jahr und 10 Monate, Okt. 2005 - Juli 2007

    Hilfswissenschaftler am Zentrum für Mikrotechnologien

    Technische Universität Chemnitz

  • 6 Monate, Okt. 2006 - März 2007

    Praktikant

    Siltronic AG Werk Freiberg

Ausbildung von Thomas Gumprecht

  • 3 Jahre und 8 Monate, Juni 2010 - Jan. 2014

    Elektrotechnik

    Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

    Optische Messtechnik, Halbleitertechnologien, Simulation und Modellierung

  • 3 Jahre und 4 Monate, Juni 2010 - Sep. 2013

    Erlangen Graduate School in Advanced Optical Technologies

    Teilnahme und Organisation internationaler Workshops in den Bereichen: optische Halbleitersensoren, optische Messtechnik, Lasermaterialbearbeitung, optische Modellierung und Simulation, Mikrofluidik, Optik in mikroelektronischen Systemen

  • 5 Jahre und 3 Monate, Okt. 2003 - Dez. 2008

    Mikrotechnik/ Mechatronik

    Technische Universtität Chemnitz

    Vergleich zweier Kantenpoliertechnologien von 300 mm Wafern hinsichtlich Kantendefekten und Kantengeometrie

Sprachen

  • Deutsch

    Muttersprache

  • Englisch

    Fließend

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