Georg Grah
Angestellt, Testingenieur ATE Methodology, Intel Corporation
Duisburg, Deutschland
Werdegang
Berufserfahrung von Georg Grah
Bis heute 13 Jahre und 5 Monate, seit Feb. 2011
Testingenieur ATE Methodology
Intel Corporation
Erstellen von Prüfprogrammen zum hochvolumen Test von integrierten Schaltungen Wafertest / Devicetest - Scan ATPG - MBist - Analogtests - Trimmen (Fusen) der ICs
Design, Simulation; Layout und Messtechnik eines Demultiplexers in InP Technologie
2 Jahre und 1 Monat, Dez. 1999 - Dez. 2001
Entwicklungsingenieur
Multilink Technology GmbH
Ausbildung von Georg Grah
7 Jahre, Okt. 1992 - Sep. 1999
Elektrotechnik
Ruhr-Universität Bochum
Sprachen
Englisch
Gut