
Dr. Michael Jordan
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Fähigkeiten und Kenntnisse
Werdegang
Berufserfahrung von Michael Jordan
- Bis heute 22 Jahre, seit Juni 2003
Wiss. Angestellter
Materialprüfungsamt Nordrhein-Westfalen, Personendosismessstelle
Wissenschaftlicher Angestellter, stellvertretender Leiter der amtlichen Personendosismessstelle, Sachgebietsleiter in der amtlichen Personendosismessstelle für die Bereiche Technik, Qualitätsmanagment, Risikomanagement,
- 7 Monate, Nov. 2002 - Mai 2003
Qualitätsingenieur
Leica Microsystems Semiconductor GmbH
Arbeitsschwerpunkte: Produktzertifizierung (SEMI, CDRH, EG-Richtlinien)
- 4 Jahre und 6 Monate, Jan. 1998 - Juni 2002
Qualitätsmanager
LG Laser Graphics GmbH / LG-Laser Technologies GmbH
Arbeitsschwerpunkte: Produktzertifizierung (TÜV, UL, CDRH, EG-Richtlinien), Optimierung organisatorischer Abläufe, Fertigungsplanung, Technischer Einkauf, Vertrieb, Projektkoordination
- 3 Jahre und 9 Monate, Okt. 1992 - Juni 1996
Wissenschaftlicher Angestellter
Materialprüfungsamt Nordrhein-Westfalen
Projektarbeit im Bereich der Personendosimetrie, Verfahrensentwicklung, Prozeßoptimierung, administrative Aufgaben, Entwicklung einer Sonde für das Laser-TLD-Verfahren, Optimierung der Herstellung von Festkörperdosimetern, Optimierung der Dosimeterauswertung
- 4 Jahre und 3 Monate, Mai 1987 - Juli 1991
Wissenschaftlicher Angestellter
Universität GH Paderborn
Entwicklung, Aufbau, Optimierung und Betrieb einer Kristallzüchtungsanlage für Galliumarsenid-Einkristallen, Defektuntersuchungen mittels optischer Spektroskopie- und magnetischer Resonanzverfahren
Ausbildung von Michael Jordan
- 4 Jahre und 7 Monate, Mai 1987 - Nov. 1991
Promotionsstudium
Universität GH Paderborn
Dissertation "Horizontale Bridgman Züchtung und spektroskopische Charakterisierung von Galliumarsenid-Einkristallen“
- 6 Jahre und 8 Monate, Okt. 1980 - Mai 1987
Physik
Universität GH Paderborn
Studienschwerpunkte: Experimentelle Festkörperphysik, Laseranwendungen, Mikroprozessoren und -computer, Diplomarbeit: "Weiterentwicklung eines ENDOR-Tieftemperaturkryostaten sowie ENDOR-Messungen an Störstellen in Ionenkristallen"
- 2 Jahre, Aug. 1976 - Juli 1978
Physik
Höhere Berufsfachschule für Technische Assistenten Olsberg
Sprachen
Deutsch
Muttersprache
Englisch
Gut
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