Safoura Derikvand

 Beschichtung von Basismaterialien (z. B. Lithiumphosphat-NCM) mit einem Sputter-Coater-Gerät  Vorbereitung der elektronentransparente (Lamellen) mit Plasma-Focused Ion Beam Mikroskopie (PFIB-SEM)  Bestimmung, Auswertung und Dokumentation der Komponenten mit EDX-Spektroskopie  Durchführung physikalischer Prüfungen im Bereich Halbleitertechnologie

 Qualitätsprüfung von EMS-Komponenten gemäß ISO/TS 16949 und nationalen Standards  Entwicklung und Analyse von Komponenten nach iranischem Normsystem  Projektunterstützung im Labor und in der Produktion

 Qualitätsprüfungen der Kraftstoffsystemkomponenten der Kraftfahrzeuge  Forschung, Herstellung und Prüfung von Gummibandprodukten für Autoindustrie mit Messgeräte z.B. Stress- Strain Tester Messgerät  Qualitätskontrolle der Rohstoffe und Endprodukte  Kundenberatung  Erstellung und Bearbeitung von SOPs

 Studium zur Entwicklung und Analyse funktioneller Materialien (z. B. Halbleiter, Batterien, Photovoltaik)  Physikalisch-chemische Methoden zur Optimierung technischer Werkstoffe  Titel der Masterarbeit: „Energy Dispersive X-ray (EDX) Analysis of Coated NCM Cathodes using Plasma Focused Ion Beam Microscopy (PFIB) and Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)”  Abschlussnote: 1,7

Theorie und Praxis in Organischer, Anorganischer, Analytischer, Physikalischer und Industrieller Chemie  Praxiserfahrung in Synthese, Analyseverfahren und industriellen Anwendungen